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熱處理設備: 管式爐箱式爐箱管混合

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加熱方式: 電阻加熱紅外燈管加熱感應加熱微波加熱

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加熱形式: 常規(guī)爐立式箱管混合式回轉爐

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加熱溫度: 300-1200 1250-1500 1600-2000

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加熱溫區(qū): 單溫區(qū) 雙溫區(qū) 三溫區(qū) 多溫區(qū) 感應加熱專用

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管徑: ф?25 ф?50 ф?60 ф?80 ф?100 ф?120及以上

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手持式四探針電阻率測試儀

型號：: M-3
產品概述：: M-3手持式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試材料電阻率/方塊電阻的多用途、高性價比測量儀器。廣泛適用于半導體材料廠、科研單位、高等院校四探針法對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。

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技術參數(shù)產品視頻實驗案例警示/應用提示配件詳情

名稱	手持式四探針電阻率測試儀-M-3
產品特征	測試儀由M-3型主機和四探針探頭兩部分組成手持式設計，帶完善厚度、形狀修正功能，測試精準寬量程：超寬五個檔位，相當于中檔臺式機的量程操作簡便、性能穩(wěn)定：輕觸數(shù)字化鍵盤實現(xiàn)參數(shù)設定、功能轉換，LED數(shù)字表頭顯示多款探頭可選，適用于各種不同材料的導電性能測試
工作電源	208-240V，50/60Hz 電池供電：DC3.7V
探頭	根據不同材料特性需要，探頭可有多款選配碳化鎢探針探頭（固體材料）：測試硅等半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料（詳見圖1）球形或平頭鍍金銅合金探針探頭（薄膜）：可測金屬箔、碳紙等導電薄膜，也可測陶瓷、玻璃或PE膜等基底上導電涂層膜，如金屬鍍膜、噴涂膜、ITO膜、電容卷積膜等材料的薄膜涂層（詳見圖2）探頭頭部安裝有平衡基座避免人手操作的誤差（詳見圖3）圖1圖2 圖3
選配	可選配快速恒壓四探針測試臺，對測試壓力進行調節(jié)保證恒壓測試，提高測試的精確度
測量范圍、分辨率	電阻：0.010～50.00kΩ 分辨率：0.001～10 Ω 電阻率：0.010～20.00kΩ-cm 分辨率：0.001～10 Ω-cm 方塊電阻：0.050～100.00kΩ/m2 分辨率0.001～10Ω/m2
基本誤差	±1%FSB±2LSB
外形尺寸	210mm L × 100mm W × 36mm H
凈重	0.3kg
質保期	一年保質期，終生維護

操作視頻

附件

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